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| 命題方式 | 招生單位自命題 | 科目類別 | 初試 |
| 滿分 | 150 | ||
| 考試性質 | |||
| 考試方式和考試時間 | |||
| 試卷結構 | |||
| 考試內容和要求 | |||
| （一）輻射度學與光度學 | |||
| 輻射度學基本概念與光度學參數。 | |||
| （二）激光原理與技術 | |||
| （1）光與物質相互作用理論，激光產生條件與基本結構； | |||
| （2）激光器基本原理； | |||
| （3）激光技術：脈沖技術、選模技術、鎖模技術、穩頻技術、倍頻技術等。 | |||
| （4）高斯光束：特性，高斯光束的準直、聚焦與模式匹配，用q參數、ABCD定則分析高斯光束。 | |||
| （三）光傳輸理論與技術 | |||
| （1）平面介質光波導理論（射線分析與波動分析）； | |||
| （2）光纖傳播理論與基本特性； | |||
| （3）光在電光、聲光以及磁光晶體中的傳播。 | |||
| （四）光調制技術 | |||
| （1）光輻射調制方法； | |||
| （2）電光調制技術：強度調制(縱向與橫向)、位相調制(縱向與橫向)、電光偏轉技術 | |||
| （3）聲光調制技術：拉曼奈斯衍射、布拉格衍射，聲光調制原理，聲光調制器衍射效率分析； | |||
| （4）磁光調制技術：旋光效應與磁光效應，法拉第效應，磁光調制器與光隔離器。 | |||
| （五）光電探測技術 | |||
| （1）光電探測器參數、光電探測方式； | |||
| （2）光電探測的物理效應； | |||
| （3）常見光電探測器的基本結構與參數。 | |||
| （六）光電成像與顯示技術 | |||
| （1）光電成像原理，CCD成像技術； | |||
| （2）液晶顯示技術、等離子體顯示技術、LED顯示技術、電致與場致發光顯示技術 | |||
| 參考書目 | |||
| 《光電子技術基礎（第二版）》，朱京平著，科學出版社，2009。 | |||
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